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Testen digitaler ic's


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War das Problem beim Testen analoger IC\'s hauptsächlich die Abhängigkeit der Kennwerte von sehr vielen Parametern, so ist es bei digitalen IC\'s die große Anzahl interner Funktionen bei einer sehr begrenzten Anzahl von Anschlüssen. Der Zugriff auf das Schaltungsinnere ist dadurch stark eingeschränkt, und der Test gerät immer aufwendiger.
Das Testen digitaler IC\'s gliedert sich in zwei voneinander unabhängige Vorgänge: das Erzeugen geeigneter Prüfmuster, und den eigentlichen Prüfvorgang. Letzterer wiederum läßt sich in das Anlegen der Testmuster an den Prüfling, die Auswertung der Reaktionen des Prüflings und die Darstellung des Testergebnisses aufteilen.
Die Auswertung der Reaktionen des Prüflings kann auf 2 verschiedene Arten erfolgen: das Vergleichen der Reaktionen mit gespeicherten Sollwerten, wozu man aber entsprechend große und schnelle Speicher benötigt, oder der Vergleich des Prüflings mit einer als fehlerfrei bekannten Schaltung des gleichen Typs.
Bei der Vorbereitung eines Tests stellt die Erzeugung geeigneter Testmuster die Hauptaufgabe dar. Die Testmusterfolge hat die Aufgabe, etwaige interne Fehler des Prüflings durch eine von der Sollantwort abweichende Testantwort nach außen sichtbar zu machen.
Im allgemeinen können 3 Arten von Testmustern unterschieden werden:

- statische Eingangssignale zur Überprüfung des elek trischen Gleichstromverhaltens durch Strom- und Span nungsmessungen

- dynamische Eingangssignale zur Überprüfung des Wechsel stromveraltens, insbesondere Zeitabhängigkeiten von Signalen und Signaländerungen

- logische Eingangssignale zur Überprüfung des funktionel len Verhaltens der Schaltung

Die beiden ersten Gruppen sind vergleichbar mit der Messung analoger Bausteine, und werden deshalb in diesem Abschnitt nicht mehr behandelt. Hier soll in erster Linie die logische Überprüfung der IC\'s dargestellt werden. Der Prüfling wird dazu mit den Testmustern erregt. Sobald ein Signal eingeschwungen ist, wird die Antwort des Prüflings ausgewertet (quasistatischer Test). Erfolgt der Test unter Echtzeitbedingungen, wird das Zeitverhalten weitgehend mitberücksichtigt. Im allgemeinen liegt ein dynamisches Fehlverhalten dann vor, wenn der Prüfling die Zeitabhängigkeiten nicht korrekt einhält, weil beispielsweise die Datenzugriffe zu langsam erfolgen. Dann werden jedoch zeitlich zurückliegende und damit falsche Daten ausgewertet.

 
 




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