|
IC-Hersteller sind aus wirtschaftlichen Gründen gezwungen, die Kosten pro ausgeliefertem IC gering zu halten. Die Kosten setzen sich aus höchst unterschiedlichen Posten zusammen. Die Prüfkosten werden vor allem durch Größen wie Testzeit, Ausbeute, Lohnkosten, Prüfumfang und dgl. beeinflußt.
Das Testequipment wird durch die Forderung nach hohem Automatisierungsgrad möglichst aus automatischen Meßplätzen bestehen. Je nach Typenvielfalt und Stückzahl können hier Großtester, Kleintester oder IEC-Bus gesteuerte Meßplätze eingesetzt werden.
Die Testzeit wird bestimmt durch das Testequipment, den Prüfumfang und das Testprogramm.
In Bezug auf den Prüfumfang mua wie am Anfang des Abschnitts 2 bereits erwähnt ein Kompromia zwischen dem Wunsch des Aufnehmens möglichst vieler Meßdaten und dem Zwang nach möglichst kurzer Meßzeit geschlossen werden. In Bezug auf den Programmaufbau kann die mittlere Testzeit vor allem dadurch verringert werden, daa zunächst die Totalausfälle aussortiert werden (Kontakt- und Kurzschlußmessungen) und anschließend, noch vor dem Aufnehmen der Kennwerte, die Funktion grob überprüft wird. Diese Methodik in Zusammenhang mit einer \"Stop-First-Fail\" Methode (Abbruch nach dem ersten nicht bestandenen Test) ergibt eine erhebliche Reduzierung der mittleren Testzeit.
In Bezug auf das Testequipment kann man wie bereits erwähnt eine grobe Unterteilung in drei Gruppen durchführen: Meßplätze mit IEC-Bus-Steuerung, Großtester und Kleintester.
Meßplätze mit IEC-Bus-Steuerungen sind eher weniger leistungsfähig, sind aber relativ billig und sehr anpassungsfähig. Hier arbeiten mehrere (bis zu 15) Meßgeräte an einem Steuerungsrechner, wobei hier meist ein Personal-Computer ausreichen wird. Der größte Vorteil dieses Systems ist, daa praktisch jedes hochwertigere Meßgerät, das heute im Handel erhältlich ist, mit einer Schnittstelle für den IEC-Bus ausgerüstet ist.
Großtester besitzen meist einen leistungsfähigen Minicomputer, der über Multiplexer parallel und im Time-Sharing-Verfahren die Messung an mehreren Meßplätzen steuert. Dieses System ist sehr leistungsfähig und ermöglicht hohe Durchsatzquoten, ist aber in der Anschaffung extrem teuer.
Kleintester sind Testsysteme, die speziell auf das Testen eines bestimmten Bausteins abgestimmt sind. Dadurch sind sie bei großer Leistungsfähigkeit relativ billig, haben aber den Nachteil, daa sie nicht an verschiedene IC-Typen anpaßbar sind, wodurch sie bei einer Änderung des Produktionsoprogramms nicht mehr ausgelastet werden können.
|
